Türk araştırmacılardan Intel donanım güvenliği ödüllerinde büyük başarı
Intel'in donanım güvenliği alanında verdiği prestijli ödüllere, Türk araştırmacıların imza attığı iki çığır açıcı çalışma layık görüldü.
UHABERHaber Merkezi
10 Kasım 2026 Salı 2 dk okuma
Fotoğraf: AA
Kısaca
- Intel'in Kalıcı Etki Ödülü'nü RowHammer açığını ilk kez ortaya koyan 2014 tarihli araştırma kazandı.
- Güncel Yayın Ödülü ise DRAM okuma bozulmasını inceleyen Chronus bildirisine verildi.
- Ödül alan çalışmalarda aralarında Prof. Dr. Onur Mutlu ve TOBB ETÜ öğrencileri ile mezunlarının da bulunduğu çok sayıda Türk araştırmacı yer aldı.
ABD merkezli teknoloji şirketi Intel tarafından verilen prestijli donanım güvenliği ödüllerine Türk araştırmacılar imza attı. Şirket, en az 10 yıl önce yayımlanan ve donanım güvenliği alanını kalıcı olarak etkileyع çalışmalara Kalıcı Etki Ödülü veriyor. Bu yıl ödüle, satır darbelemeyi ilk kez ortaya koyan 2014 tarihli çalışma layık görüldü.
Yoongu Kim, Ross Daly, Jeremie Kim, Chris Fallin, Ji Hye Lee, Donghyuk Lee, Chris Wilkerson, Konrad Lai ve Türk bilgisayar bilimcisi Prof. Dr. Onur Mutlu'nun imzasını taşıyan çalışma, dünyanın üç büyük bellek üreticisinden sınanan bellek modüllerinin yüzde 80'inden fazlasında satır darbelemenin ortaya çıktığını göstermişti. Intel, çalışmayı satır darbeleme adıyla bilinen DRAM bozulma hatalarını ilk kez gözler önüne seren çığır açıcı bir araştırma olarak tanımladı.
Güncel yayın ödülü de Türk imzalı çalışmaya gitti
Son iki yılda yayımlanan çalışmalara verilen Güncel Yayın Ödülü'nü ise Oğuzhan Canpolat, Giray Yağlıkçı, Geraldo F. Oliveira, Ataberk Olgun, Nisa Bostancı, İsmail Emir Yüksel, Haocong Luo, Prof. Dr. Oğuz Ergin ve Prof. Dr. Onur Mutlu'nun imzasını taşıyan bildiri kazandı. Satır darbeleme açığına karşı sanayinin geliştirdiği en yeni korumayı 11 yıl sonra inceleyip güçlendiren çalışma için ödülü, törende yazarlar adına Giray Yağlıkçı aldı.
Chronus'un dokuz yazarından yedisi Türk, beşi de TOBB ETÜ'de Prof. Dr. Oğuz Ergin'in öğrencisi olarak yetişti. Chronus'un baş yazarı Oğuzhan Canpolat, Oğuz Ergin'in yönettiği TOBB ETÜ Kasırga Mikroişlemciler Laboratuvarının mikroişlemci tasarım takımında yetişti ve çalışma, Canpolat'ın yüksek lisans tezinin konusuydu. Ayrıca Kasırga takımları, TEKNOFEST Çip Tasarım Yarışması'nda 4 yıl üst üste toplam 5 birincilik elde etti.